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真空型礦產元素分析儀介紹：$n能量色散X射線熒光光譜儀---EDX9000 Plus B是一款多功能臺式能量色散X射線熒光 (XRF) 分析儀，適用于從鈉 (Na) 到鈾 (U) 的元素分析，適用于無機和有機-無機雜化材料、礦物、建筑材料等的批量和痕量分析以及油和燃料、聚合物、塑料、食品、藥品、化妝品和環(huán)境中的微量元素分析。

Simply the Best 先進制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器 真空光路配備薄膜濾光片技術，提高輕元素檢出限 可同時分析40種元素 可分析固體，液體，粉末和泥漿 進口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能 無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結果） 無需化學試劑，無耗材，更環(huán)保，更高效

ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。 EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰

英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。其優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。

英飛思EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析，無論是固體，合金，粉末，液體或者漿液，都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析，分析速度快，測試結果精確，儀器性能穩(wěn)定。

新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。分析速度快，測試結果精確，儀器性能穩(wěn)定。