EDX8900 XRF光譜儀作為一款高性能的臺(tái)式高分辨率X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800M MAX配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時(shí)配備了高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。

EDX8900M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬材料•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等。

EDX8800M MAX操作簡單，分析性能出色，同時(shí)還可拓展到以下應(yīng)用：

>塑膠及有機(jī)物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>合金成分分析，牌號(hào)鑒定，貴金屬測定，三元催化分析

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

XRF光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

作為一款專業(yè)為材料成分分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-8900M MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果

•高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控，讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準(zhǔn)確性，同時(shí)可選配氦氣充氣系統(tǒng)

•友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

材料元素檢測專家EDX8900M MAX儀器參數(shù)：